點云分析中的最高性能
Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點云。
Metrolog X4 集成了高效光學測量功能所需的最新技術,可確保無論使用哪種設備都能獲得最佳的結(jié)果。
使用CAD(彩圖分布)進行云比較。
元素提取和自動GD&T。
直觀的間隙和面差。
測量并補償材料厚度。
根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量(面積計算)。
Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點云。
Metrolog X4 集成了高效光學測量功能所需的最新技術,可確保無論使用哪種設備都能獲得最佳的結(jié)果。
使用CAD(彩圖分布)進行云比較。
元素提取和自動GD&T。
直觀的間隙和面差。
測量并補償材料厚度。
根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量(面積計算)。
可以根據(jù)操作員的習慣、設備類型和測量方法完全自定義用戶界面。
全新的手動采點助手。
采集過程中自動查看方向。
多個信息窗口(位置和結(jié)果)。
隨時可切換的19種語言系統(tǒng)。
Metrolog X4 具有新的幾何和尺寸公差處理引擎,可在既定時間內(nèi)處理最復雜的情況。
簡化了幾何公差定義。
“專家”級系統(tǒng),確保了正確的評估方法和結(jié)果。
全面支持符合給定標準的公差評估。
支持ANSI和ISO標準。
檢測結(jié)果得到PTB和NIST組織的認證和認可。
PolyWorks | Inspector以功能強大且穩(wěn)定的直接硬件接口而聞名,它提供—套廣泛的指導技術,全球最大的工業(yè)制造企業(yè)相信它能夠為便攜式測量設備提供高效、 精確和可重復的測量流程。