中國駐福岡總領館成巖副總領事一行蒞臨調研PMT日本研發(fā)中心

2023年1月17日上午9時（日本當?shù)貢r間)，中國駐福岡總領館副總領事成巖一行到訪調研PMT日本研發(fā)中心?？偨?jīng)理Tom Tai、研發(fā)經(jīng)理Sean Wu對領事們的到訪表示了熱烈歡迎。

在總經(jīng)理Tom Tai的帶領下，領事們走進PMT日本研發(fā)中心，了解PMT的發(fā)展歷程。雙方在測量尤其是便攜式測量領域展開交流，并就測量領域未來技術突破的可能性進行了深度探討。

隨后，Tom向大家詳細地演示了PMT ALPHA測量臂的測量過程。通過對掃描測量臂的功能展示，領事們對PMT的便攜式測量技術表示了充分肯定。副總領事成巖指出，自黨的二十大以來，我國更加堅定建設“科技強國”的方針，希望PMT在今后的發(fā)展中，繼續(xù)加強引領性技術研究，凝聚民企科技力量。

交流過程中，針對全球科技發(fā)展宏觀態(tài)勢，雙方均對目前的測量技術做了深刻剖析和研判，達成了共識。成巖一行也表示，此次來訪，一是深入了解PMT日本研發(fā)中心的發(fā)展情況，二是臨近春節(jié)，對在日中國留學生表示慰問。

在參觀交流即將結束時，Tom Tai對中國駐福岡總領館一行的支持與慰問致以感謝。并表示PMT成長于中國，一路發(fā)展離不開國家的大力支持。發(fā)展不息、創(chuàng)新不止，PMT于日本的學習與建設亦是在凝聚測量產(chǎn)業(yè)的合力，拓展更寬廣的思維模式，得到更快速的發(fā)展，實現(xiàn)高水平科技自立自強。